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當前位置:首頁產品中心實驗檢測儀器測量金相顯微鏡PZ-JTM-5040H導電粒子顯微鏡

導電粒子顯微鏡

產品簡介

導電粒子顯微鏡主要用于LCD、PDP、PCB等相關的光電產業(yè),為其制造提供所需的檢測設備。具有觀察OLB壓接粒子分布、液晶板表面貼附的異物、液晶板劃傷情況、測量導電粒子大小、數量等功能

產品型號:PZ-JTM-5040H
廠商性質:生產廠家
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產品名稱:導電粒子顯微鏡
 產品型號:PZ-JTM-5040H
產品簡介:主要用于LCD、PDP、PCB等相關的光電產業(yè),為其制造提供所需的檢測設備。具有觀察OLB壓接粒子分布、液晶板表面貼附的異物、液晶板劃傷情況、測量導電粒子大小、數量等功能

產品特點:

    導電粒子顯微鏡是一種兼顧影像與目視兩用的高準確度、高效率測量儀器。它具有電視成像與目視光學兩套瞄準系統(tǒng),是集光、機、電、算、影像于一體的測量型金相顯微鏡。該儀器廣泛用于電子組件、模具、刀具、塑料、PCB加工等方面,不僅可用作坐標測量,還可以目鏡標準分劃板作顯微放大比較測量,測量螺紋的節(jié)距、外徑、牙角等工件尺寸或外形輪廓,ACF導電粒子形狀和瑕疵觀察,除應用于長度、角度測量外,還可作為觀察顯微鏡。是機械、電子、儀表、鐘表、輕工、塑料行業(yè),院校、研究所和計量檢定部門的計量室、實驗室已經生產車間*的計量檢測設備之一。

1. 符合人機工程學設計準則方便操作測量

2. 工作臺一鍵式氣動單手快速移動操作

3. 可實現Z軸自動對焦

4. 具有偏光和DIC檢測功能

5. 采用被動式減震裝置,提高整機準確度穩(wěn)定性

6. 軟件,高清晰1/2"彩色攝像機

7. 可通過激光指示器尋找被測工件的具體位置,可適應復雜工件的測量

8. 可實現高度輔助測量

9. Z軸光柵尺分辨力為0.1μm

10. 同軸光/底光測量

11. 可搭配白光納米檢測模塊測量納米級厚度

 規(guī)格參數:

規(guī)格型號

PZ-5040H

工作臺

玻璃臺尺寸(mm)

570*470

運動行程(mm)

500* 400

Z軸電動升降行程(mm)

200

光柵尺分辨力(μm)

0.1μm

X、Y坐標示值誤差(μm)

2.5+ L/75  (L為測量長度,單位mm)

影像系統(tǒng)

彩色1/2CCD攝色機:;結合測量軟件QMS3D-M

顯微鏡系統(tǒng)

三目頭

目鏡:10

濾光片:黃、綠、藍、白

量測模式:反射,透射,偏光

5孔物鏡轉換鏡

照明系統(tǒng)

透射照明光源:白光LED,亮度可調

同軸照明光源:12V 100W鹵素燈,亮度可調

物鏡

倍率

5X

10X

20X

50X

工作距離 (mm)

18.0

15.0

4.5

11.0

總放大倍率

目視

50X

100X

200X

500X

19寸視頻

301.625X

603.25X

1206.5X

3016.25X

高度量測模塊

(選配件)

白光干涉高度測量模塊(M10-CA),高度量測分辨率0.5 μm (選配):倍率10X,工作距離5mm,光學分辨力2um

其他參數

外形尺寸 (mm)

1270*1150*1860

儀器重量 (kg)

850

電源功耗

~220V  50/60Hz  < 60W(不包含計算機)

       

 

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