非接觸式光學掃描儀是一種通過彩色激光光源發(fā)射出一束高密度寬光譜光，通過色散鏡頭后，在量程范圍內形成不同波長的單色光，每個波長對應一個距離值。測量光射到物體表面反射回來，只有滿足共聚焦條件的光，可以通過小孔被光譜儀感測到。通過計算被感測到光的焦點的波長，換算獲得距離值。它被廣泛應用在各種不同的精密產(chǎn)業(yè)中如油墨厚度測量，MLCC厚度測量，厚膜電路測量，銀漿厚度測量，激光刻蝕測量，涂膠厚度測量，半導體、

共面性尺寸測量儀設備結構美觀大方，操作簡便，結合本公司自主研發(fā)的測量軟件，可實現(xiàn)準確的元器件共面性、工件外形尺寸等測量，性價比高、拓展性強、功能全面、可滿足各種常規(guī)測量需求。

全自動光學影像儀結構美觀大方，操作簡便，結合本公司自主研發(fā)的測量軟件，可實現(xiàn)準確的工件測量。廣泛應用于機械、電子、模具、注塑、五金、橡膠、低壓電器，磁性材料、精密五金、精密沖壓、接插件、連接器、端子、手機、家電、計算機（電腦）、液晶電視(LCD)、印刷電路板（線路板、PCB）、汽車、醫(yī)療器械、鐘表、螺絲、彈簧、儀器儀表、齒輪、凸輪、螺紋、半徑樣板、螺紋樣板、電線電纜、刀具、軸承、篩網(wǎng)、試驗篩。

封裝共面性測試儀結構美觀大方，操作簡便，結合本公司自主研發(fā)的測量軟件，可實現(xiàn)準確的元器件共面性、工件外形尺寸等測量，性價比高、拓展性強、功能全面、可滿足各種常規(guī)測量需求。

器件引腳共面性檢測儀設備結構美觀大方，操作簡便，結合本公司自主研發(fā)的測量軟件，可實現(xiàn)準確的元器件共面性、工件外形尺寸等測量，性價比高、拓展性強、功能全面、可滿足各種常規(guī)測量需求。

半導體共面性測量設備結構美觀大方，操作簡便，結合本公司自主研發(fā)的測量軟件，可實現(xiàn)準確的元器件共面性、工件外形尺寸等測量，性價比高、拓展性強、功能全面、可滿足各種常規(guī)測量需求。