三坐標(biāo)測量機(jī)的發(fā)展特征

隨著計(jì)算機(jī)等硬件能力的提升以及圖像處理算法的不斷發(fā)展，都將提高影像測量儀系統(tǒng)的效率.實(shí)現(xiàn)微型零件由點(diǎn)測量模式向整體測量模式過渡?，F(xiàn)有的影像測量儀技術(shù)受測量精度的制約，基本都是對微型零件中關(guān)鍵特征區(qū)域進(jìn)行成像，從而實(shí)現(xiàn)關(guān)鍵特征點(diǎn)的測量，而難以對整個(gè)輪廓或整體特征點(diǎn)進(jìn)行測量。
  追求品質(zhì),總之,在微型零件測量領(lǐng)域,三次元坐標(biāo)測量機(jī)技術(shù)實(shí)現(xiàn)高精度化、率化將必然成為精密測量技術(shù)的重要發(fā)展方向。因而對圖像獲取的硬件系統(tǒng)、獲取圖像的質(zhì)量、圖像邊緣的定位、系統(tǒng)標(biāo)定等環(huán)節(jié)提出了更高的要求，具有應(yīng)用前景和重要的意義。
  三次元坐標(biāo)測量機(jī)測量精度進(jìn)一步提升。隨著工業(yè)水平的不斷進(jìn)步,對微型零件的精度要求也將進(jìn)一步提高，因而也對影像測量儀技術(shù)的測量精度提出了更高的要求。同時(shí)，隨著圖像傳感器件的快速發(fā)展，高分辨率器件也為系統(tǒng)精度的提升創(chuàng)造了條件.