Borderless產(chǎn)品觀查導電粒子

邊Borderless產(chǎn)品觀查導電粒子

產(chǎn)品說明：使用光源,偏光片<0.09mm(條件待確認),鏡頭前偏光片消除偏光效應后,再調(diào)整光路上之干涉相位差

測量顯微鏡工作原理如圖所示，被測工件置于工作臺上，在底光或表面光照明下，它由物鏡成放大像，經(jīng)過分光與反射系統(tǒng)后，一路成像于目鏡分劃板上，人眼通過目鏡可觀察到一個放大的正像；另一路成像于彩色CCD上，攝像機攝取工件像后通過網(wǎng)口傳送至計算機及彩色液晶顯示器上，顯示出一個與工件*同向的放大清晰影像。

我們可以通過目鏡或液晶顯示器對工件像進行瞄準定位，通過數(shù)字測量系統(tǒng)：光柵尺與專業(yè)測量軟件對測量數(shù)據(jù)進行數(shù)據(jù)處理，即光柵尺的信號與計算機主機通訊，供專業(yè)軟件進行測量和數(shù)據(jù)處理。

目視測量系統(tǒng)還可以利用目鏡分劃板上預先刻制好的標準圖形對工件進行比較測量。

底光照明光源與顯微鏡自帶表面光源，視工件的性質(zhì)兩種照明可分別使用，也可同時使用。